在3C电子、新能源等高端领域中，透明/半透明物体高精度测量是行业痛点，传统方案受材质特性与复杂形态限制，难以满足品质与效率需求。
FWCU01系列光谱共焦传感器应运而生，凭借核心技术攻克透明测量难题，以全材质适配、纳米级精度、智能协同等优势，成为高端制造质控利器。
核心技术：破解透明测量痛点
依托光谱共焦技术，实现非接触式测量，可精准穿透玻璃、薄膜等透明/多层材质界面，摆脱透光率、反射率限制，无盲区捕捉数据。
具备全材质适配能力，涵盖透明、金属、塑料等各类材质及复杂表面，一款设备覆盖多品类检测，降低企业投入成本。
极限性能：兼顾精度与效率
纳米级精度：分辨率0.006μm、
绝对精度最高0.2μm；
33kHz超高采样频率，实现高速动态监测，适配生产线高效检测需求。
9.5-80mm多量程可选，
±60°超大角度测量能力，精准扫描弧形轮廓，覆盖常规及复杂形态检测需求。
智能协同：适配自动化生产
支持1拖2光谱头对射测厚，内置数据存储与3轴编码器触发功能，可与运动平台无缝联动，适配自动化生产全流程。
全场景赋能多行业
广泛适配高端制造核心检测场景：
3C电子：显示器玻璃厚度、光学镜片曲率监测等；
新能源：锂电池隔膜平整度、透明薄膜晃动检测等；
通用制造：零部件凹槽深度、基板卷曲度检测等。
光谱共焦位移传感器核心技术突破测量痛点，为透明/复杂材质测量提供精准解决方案。