旗舰级全能型:FSD-LK系列——超高精度与复杂场景的终极解决方案

发布日期:

2025-11-13

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FSD-LK系列不仅仅是一款传感器,它是面向未来高端工业的全能型测量生态系统。我们致力于为最严苛的测量挑战提供集超高精度、极限速度和超凡稳定性于一体的终极解决方案,是您在航空航天、半导体、精密制造等领域不可或缺的可靠伙伴。

 旗舰级全能型:FSD-LK系列——超高精度与复杂场景的终极解决方案


核心优势:
定位高端工业测量,以 
“高精度、高速度、高稳定、高灵活” 四大核心支柱,直面极限挑战,赋能智能制造。

 

性能深度解析:

宽广量程与极致精度:

提供25至197mm的多量程选择,灵活覆盖绝大多数工业测距、测厚应用场景。

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核心性能傲视同侪:线性精度高达±0.02%F.S.重复精度稳达0.02μm绝对精度确保1.2μm。这不仅达到了微米级测量的顶尖水平,更为您的质量控制体系提供了可信赖的“标尺”。

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超凡动态性能与数据智能:

搭载590KHz的超高采样频率,能够无失真地捕捉高速运动或瞬态变化的微观细节。

 

内置大容量存储器,可本地缓存120万条测量数据,即使在恶劣网络环境下也能确保数据不丢失,为后续分析与追溯提供完整依据。

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智能触发与无缝集成:原生支持三轴差分编码器触发,可与运动控制系统实现纳秒级同步,精准抓取特定位置的数据,完美构建 “感知-决策-执行” 的实时闭环控制。

 

卓越的灵活性与扩展能力:

专业的中央控制器支持 “1拖4” 多传感头模式。仅需单台设备即可构建小型测量网络,实现多工位同步测量,显著降低多轴复杂系统的构建成本与布线复杂度。

 

无与伦比的稳定性与可靠性:

采用先进的抗干扰设计与优质元器件,确保在强电磁干扰、温度波动、机械振动等复杂工业环境下,依然能保持长期稳定的测量性能,最大限度降低停机风险。

旗舰级全能型:FSD-LK系列——超高精度与复杂场景的终极解决方案


·适用场景:航空航天部件形位公差检测、半导体晶圆厚度测量、精密仪器校准等对精度与动态性能要求严苛的高端场景。

旗舰级全能型:FSD-LK系列——超高精度与复杂场景的终极解决方案

 

FSD-LK系列以其全方位的卓越性能,成为连接微观精度宏观生产的桥梁。选择FSD-LK,不仅是选择了一款测量工具,更是选择了提升产品品质、优化生产工艺、驱动技术创新的可靠保障。让我们携手,将您的精度标准推向新的极限。

 


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