揭秘FSD22系列:1/100mm精度背后的CMOS激光检测技术

发布日期:

2025-11-01

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在追求极致精度的电子制造领域,富唯电子推出的FSD22系列CMOS型微型激光位移传感器,以其高达1/100mm的检测能力,为微米级变形测量树立了新标杆。该系列传感器如何实现这一突破性性能?

揭秘FSD22系列:1/100mm精度背后的CMOS激光检测技术

核心技术在于其采用的高精度CMOS影像传感器与富唯电子独家算法的深度融合。传统距离设定反射型传感器在微小形变检测上面临挑战,而FSD22系列通过CMOS技术的高分辨率成像特性,结合先进算法对光斑信号进行精准分析和补偿,实现了对被测物体位置变化的极细微感知。这使得检测基板翘曲度、引线框架重叠等以往难以捕捉的微小变形成为可能,且数据稳定可靠。

揭秘FSD22系列:1/100mm精度背后的CMOS激光检测技术

在系统集成方面,FSD22系列提供了极大的灵活性。它不仅直接以mm单位显示测量值,便于现场观察,更支持模拟量输出(0-5V/4-20mA),能够无缝对接PLC及各类工业控制单元。这种设计便于用户进行实时数据监控、运算处理乃至质量追溯,为构建高自动化、高可靠性的智能产线提供了关键的数据采集支持。

揭秘FSD22系列:1/100mm精度背后的CMOS激光检测技术

无论是用于部件正反判断、垫圈有无检测,还是其他需要高精度位移或存在性检测的环节,FSD22系列都能凭借其微型化设计、超高精度和强大的系统兼容性,有效提升产品质量与生产效率,成为电子制造行业精密检测的理想解决方案。


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